半導體元件顧問　使用說明

用途

協助你分析半導體元件異常，快速整理根因、量測順序、TCAD 校正、模型萃取或可靠度驗證方案。

適合誰

適合元件研發、製程整合、電性量測、可靠度、Compact Model、TCAD、良率與失效分析人員。

怎麼用

1. 把 Skill 加進你的 AI 工具。
2. 貼上元件種類、異常現象、量測條件，以及正常組與異常組資料。
3. 說明你要的成品，例如「給我明天可跑的量測順序」或「整理成 LINE 群組可貼的摘要」。

範例

你可以輸入：

「同一批 FinFET 的 (I_\mathrm{on}) 比前批低 8%，但 (V_t) 和 SS 差不多。量測在室溫、高 (V_{ds})，目前只有 DC 資料。請給我明天可直接跑的檢查順序。」

你會得到以接觸電阻、自發熱、有效通道長度與 Mobility 為主的檢查優先序，包含 TLM、低／高 (V_{ds}) I–V、Pulsed I–V、溫度對照及製程紀錄回查，可直接交給實驗室執行。

注意

資料越完整，判斷越準。請附上元件架構、幾何、偏壓、溫度、量測模式與萃取方法。未經實際晶圓資料校正的模擬只能當趨勢參考；機密 PDK、客戶資料與先進製程資訊請依公司規範處理。

技序 Jixu AI 出品